EA類設施: 安裝完成後的現場測試要求
A. 超六類網線安裝測試一般要求
1、應對安裝中的每條電纜鏈路執行以下測試:
a.接線圖
b.長度
c.插入損耗
d.NEXT損耗
e.PS NEXT損耗
f.ACR-N損耗
g.ACR-F損耗
h.PS ACR-F損耗
i.回波損耗
j.傳輸延遲
k.延遲偏差
l.直流(d.c.)環路電阻
m.直流(d.c.)電阻不平衡
n.屏蔽層連通性(如有)
o.橫向轉換損耗(TCL)
p.等電平橫向轉換轉移損耗(ELTCTL)
遵循以下標準規定的現場測試規範:
ISO/IEC 11801(2002):信息技術– 用戶建築群普通電纜線路
ISO/IEC 11801:信息技術– 用戶建築群普通電纜線路 修正1
ISO/IEC 11801:信息技術– 用戶建築群普通電纜線路 修正2
IEC 61935-1 ed 4.0:ISO/IEC 11801標準規定的平衡通信電纜的測試 第1部分:已安裝電纜
這些標準被統稱為“ISO EA類標準”
本文檔使用的術語由以下標準定義或與其一致:
“ISO/IEC 14763-2:信息技術 — 用戶建築群布線的實施和操作 - 第2部分:規劃與安裝
2.對於已安裝的雙絞線水平鏈路,應從電信機房的IDF到工作區的牆式電信插座之間進行測試,以便符合ISO EA類標準中規定的“永久鏈路”性能。
3.百分之百的已安裝電纜鏈路必須滿足以上A.1中所述標準的要求,這些要求的詳細內容請參見章節B。如有任何鏈路未能通過測試,必須對其進行診斷和修正。采取修正措施之後,必須重新進行測試,以證明修正後的鏈路滿足性能要求。所有鏈路的最終測試結果和合格結果必須按照以下章節C的規定列在測試結果文件中。
4.負責執行測試的技術人員應參加過相應培訓計劃並獲得證書。相應的培訓計劃包括但不僅限於BiCSi、ACP (電纜專家協會)或福祿克網絡的CCTT (布線測試認證工程師)培訓夥伴提供的安裝認證計劃。
5.測試設備(測試儀)應滿足標準IEC 61935-1:“平衡和同軸信息技術布線測試的技術規範– 第1部分:ISO/IEC標準規定的平衡布線 ”中規定的IIIe級現場測試儀精度要求。
注:如同一標準所述,符合IV級和/或V級要求與EA類設施的測試沒有任何關聯。
6.包含相應接口適配器的測試儀必須滿足規定的精度要求。永久鏈路測試配置的精度要求(基本精度加適配器的影響)參見標準IEC 61935-1的表14 – IEC指導規定的IIIE級現場測試儀精度性能參數。
7.永久鏈路適配器加NEXT/FEXT損耗應介於測試插頭的下限和上限之間,符合標準IEC 60512-27-100 Ed 1.0:“電氣設備連接器 – 測試和測量 – 第27-100部分:60603-7係列連接器500 Mhz以下信號完整度測試 – 測試27a至27g”對6A類的要求。此類測試插頭通常被稱為“真正同心的測試插頭”。理想的測試插頭與附錄A.4“基於PCB的1 TFC總成”中所示的PCB式的版本完全相同。
8.為了達到廠商規定的測量精度,測試儀應在廠商推薦的校準周期之內進行校準。
9.測試儀接口適配器必須具有高質量,測試儀接口適配器的盤繞和儲存都不應造成電纜扭曲或纏繞。為了實現最佳精度,規定了測試儀的永久鏈路接口適配器的性能,可將其進行校準,將回波損耗測量的參考麵擴展到永久鏈路接口。承包人應該證明已經在廠商建議的周期內對接口進行了校準。為確保工作中的正常操作不會造成可測量的回波損耗發生變化,適配器電纜不應采用雙絞線結構。
10.被測鏈路的合格或不合格條件取決於要求的單項測試的結果(詳細信息見表1“已安裝平衡布線測試參數”的“內部傳輸”部分)。任何標注為“不合格”或“不合格*”的結果都造成被測鏈路測試“不合格”。隻有每項測試參數均為“合格”或“合格*”時,整體結果才為“合格”。
11.每個參數的合格或不合格結果都通過將實測值與該參數的規定測試限值進行比較確定。如果測試結果與測試限值的相近程度超過現場測試儀的精度指標,則該參數的測試結果應用星號(*)標注。如果認為測試儀的精度優於IIIe級精度(ISO/IEC 619351-1:表9 – IIIE級測試儀器的最差條件插入損耗、NEXT、ACR-N、ELFEXT/ACR-F和回波損耗測量精度/永久鏈路限值處的鏈路精度)並用於判斷裕量結果,測試儀製造商必須提供來自於獨立實驗室的“最差條件”測試數據,以支持這一觀點。何種程度的“*”結果影響被測元件的批準或否決應在相應詳細規範中定義,或者作為合同規範的一部分商定。
B.超六類網線安裝測試性能測試參數
1.EA類的測試參數在標準ISO/IEC 11801:信息技術 – 客戶建築群普通電纜線路的修訂2中定義。每條鏈路的測試應包含以下所有參數,詳情見下文。為了通過測試,所有測量值(從1 MHz至500 MHz範圍的每種頻率下)都必須滿足或超過以上所述標準規定的限值。頻率步長應不超過0.5 Mhz (100 MHz以下時)和5 Mhz (500 MHz以下時)。
2.接線圖
如果每對線對的端對端連接是正確的,則應記錄為合格。接線圖結果應包括屏蔽層的連通性(如有)。
3.插入損耗(衰減)
插入損耗是衡量永久鏈路或通道中信號損耗的一項指標。術語“衰減”過去曾經用於表示“插入損耗”。應在1 MHz至500 MHz範圍內測試插入損耗,最大步長為1 MHz。為了提高計算衰減串擾比(ACR)參數的精度,測量插入損耗時的頻率間隔最好與NEXT損耗相同。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷最差線對(4種可能中的1種)。最差線對的測試結果必須顯示實測的最高衰減值(最差條件)、最差條件值發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
4.NEXT損耗
應在鏈路的每一段、對每一種線對組合(總共12種線對組合)進行線對之間的近端串擾損耗(縮寫為NEXT損耗)測試。在1至500 MHz範圍內測量該參數。NEXT損耗測量幹擾線對發射端(近端)對另一線對的串擾。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷NEXT裕量最差(2)的線對組合和 NEXT值最差(最差條件)的線對組合。在被測鏈路的每一端測量NEXT。必須根據每一端的測試判斷這些線對組合。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
5.PS NEXT損耗
應該評估和報告被測鏈路兩端的每個線對的測試結果(共8個測試結果)。PS NEXT損耗表示其他線對實際傳輸信號時對該線對的組合近端串擾影響(統計)。與NEXT一樣,必須在1至500 MHz範圍內對該測試參數進行評估:判斷裕量最差的線對和PS NEXT值最差的線對。必須根據每一端的測試判斷這些線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
6.ACR-N,線對到線對
近端衰減串擾比是根據線對到線對的NEXT損耗和插入損耗計算得到的。應該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進行測量。ACR-N測量近端串擾相對於到達鏈路起點的被衰減信號的相對強度。在1至500 MHz範圍內測量ACR-N。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷裕量最差的線對組合以及ACR-N值最差的線對組合。必須根據每一端的測試判斷這些線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
7.PS ACR-N,線對到線對
近端功率和衰減串擾比是計算得到的參數,表示其中三個線對對第四個線對的NEXT影響。應該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進行測量。PS ACR-N測量全部近端串擾的功率和相對於到達鏈路起點的被衰減信號的相對強度。在1至500 MHz範圍內測量PS ACR-N。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷裕量最差的線對組合以及PS ACR-N值最差的線對組合。必須根據每一端的測試判斷這些線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
8.ACR-F,線對到線對
遠端衰減串擾比是根據線對到線對的FEXT損耗計算得到的。應該在被測鏈路的每一端對每種線對組合進行測量。FEXT損耗測量幹擾線對發射端外的另一端(遠端)對另一線對的串擾。通過測量FEXT,計算得到ACR-F損耗,必須進行評估並在測試結果中報告。ACR-F測量遠端串擾相對於到達鏈路末端的被衰減信號的相對強度。該項測試一般有24種線對組合。在1至500 MHz範圍內測量ACR-F。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷裕量最差的線對組合以及ACR-F值最差的線對組合。必須根據每一端的測試判斷這些線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
9.PS ACR-F損耗
遠端功率和衰減串擾比是計算得到的參數,表示其中三個線對對第四個線對的FEXT影響。該項測試一般有8種線對組合。在1至500 MHz範圍內對每個線對進行評估。最小測試結果存檔(彙總結果):必須根據每一端的測試判斷最差組合的線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
10.回波損耗
回波損耗(RL)表示每個線對上反射的總能量。在被測鏈路的每一端對每個線對執行回波損耗測量。也在1至500範圍內測量該參數。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷裕量最差的線對和回波損耗值最差的線對。必須根據每一端的測試判斷這些線對。報告的每種情況應該包括發生時的頻率以及該頻率下的測試限值。
11.傳輸延遲
傳輸延遲指信號從鏈路的一端傳輸到另一端所需的時間。對四個線對中的每個線對執行該項測試。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷傳輸延遲最差的線對。報告應包括實測傳輸延遲值以及測試限值
12.延遲偏差
該參數表示四個線對的傳輸延遲之間的差異。傳輸延遲最短的線對作為參考線對,其延遲偏差值為零。最小測試結果存檔(彙總結果):判斷傳輸延遲最差的線對(傳輸延遲最大)。報告應包括實測延遲偏差值以及測試限值。
13.直流(d.c.)環路電阻
該參數表示每個線對導線的總直流電阻。
14.直流(d.c.)電阻不平衡
該參數表示每個線對的每根導線的直流電阻和線對間的直流電阻之間的差異,以確定已安裝鏈路是否支持PoE (以太網供電)。
15.屏蔽層連通性
如果TR、CP或TO處的電纜和連接硬件之間的屏蔽層不連續,則應報告屏蔽層開路。此外,對於僅連接地線並嚴重影響TI表麵傳輸阻抗的現象,也應報告為屏蔽層開路。
16.橫向轉換損耗(TCL)
近端不平衡衰減,通過計算布線係統中一個線對上差模功率與共模功率之比測得,係統中隻注入差模功率。
注:由於缺乏針對鏈路的限值,所以應采用通道的限值。與預期鏈路相比,該項要求可認為是寬鬆的。
17.等電平橫向轉換轉移損耗(ELTCTL)
遠端不平衡衰減,通過計算布線係統中差模功率與共模功率之比測得,係統中隻注入差模功率。該值為TCTL。從TCTL中減去被測通道/鏈路的插入損耗,即得到EL TCTL。根據實測差模和共模電壓之比進行計算。
注:由於缺乏針對鏈路的限值,所以應采用通道的限值。與預期鏈路相比,該項要求可認為是寬鬆的。
C.超六類網線安裝測試結果文檔編製
1.測試結果/測量值應傳輸至基於Windows?的數據庫應用程序,支持對這些測試記錄進行維護、檢查和存檔。必須保證在每項測試結束時將測量結果不加修改地傳輸到PC,也就是“和在測試儀中保存的一樣”,並且隨後也不能修改這些結果。
2.對於已完成的工作,應該以CD-ROM或DVD的形式儲存和提供數據庫,包括查看、檢查以及打印任何測試報告選項所需的軟件工具。
3.應提供紙質測試結果,其中列出測試的所有鏈路以及以下彙總信息:
a.鏈路標識,應與總體係統文件中定義的命名規則一致。
b.被測鏈路的總體合格/不合格評估結果,包括NEXT裕量(總體最差條件)。
c.測試儀存儲器中保存數據時的日期和時間。
4.以電子形式提供的一般信息,以及每條鏈路的測試結果信息:
a.最終用戶規定的位置標識。
b.鏈路標識,應與總體係統文件中定義的命名規則一致。
c.被測鏈路的總體合格/不合格評估結果。
d.處理測試結果時依據的標準的名稱。
e.電纜類型以及長度計算時使用的NVP值。
f.測試儀存儲器中保存數據時的日期和時間。
g.測試儀的品牌、型號及序列號。
h.測試儀接口的標識。
i.測試儀的最後校準日期。
j.測試儀軟件的版本以及測試儀中測試標準數據庫的版本。
k.測試結果信息必須包含關於章節B中所列並在C5和C6中詳細介紹的每個測試參數的信息。
5.在鏈路(在通道)詳細測試結果。以電子數據庫形式提供的詳細測試結果數據必須包含以下信息:
對於頻率相關的每個測試參數,測試期間每一頻率下的實測值。PC數據庫程序必須能夠處理儲存的數據,以便顯示和打印測量參數的彩色圖形。PC軟件還必須提供彙總的數字格式,其中以數字形式提供一些關鍵信息,請參照上文所述的每個測試參數的彙總結果規定(最小數字測試結果文件)。
長度:判斷電氣長度最短的線對,長度值四舍五入到0.1 m (1)。
傳輸延遲:判斷傳輸延遲最短的線對,以納米(ns)為單位的測量值以及測試限值。
延遲偏差:判斷延遲偏差最大的線對,以納米(ns)為單位的計算值以及測試限值。
插入損耗(衰減):按照章節B關於最差線對的介紹,存檔最小測試結果。
回波損耗:按照章節B關於最差線對的介紹,從鏈路的每一端進行測量,存檔最小測試結果。
NEXT、ACR-N、ACR-F、TCL和ELTCTL:按照章節B關於最差線對組合的介紹,從鏈路的每一端進行測量,存檔最小測試結果。
PS NEXT、PS ACRN和PS ACR-F:按照章節B關於最差線對的介紹,從鏈路的每一端進行測量,存檔最小測試結果。
1:額定傳輸速度(NVP)表示電信號在電纜鏈路中相對於真空中光速(3×108 m/s)的速度。線對雙絞線的絕緣特性對NVP的影響很小。通常情況下,用“平均”NVP值表示數據電纜中的全部四個線對。
2:“裕量”表示實測值與對應測試限值之差。對於通過測試的鏈路,“最差條件裕量”表示整個頻率範圍內最小的裕量;即實測性能“最接近”測試限值的點。
同類文章排行
- 網絡維護和故障診斷培訓(CNMT)
- 福祿克Fluke 115C和Fluke 117C萬用表維修案例
- 深入了解8芯MPO解決方案
- Fluke CableIQ電纜鑒定測試儀(CIQ-100,CIQ-KIT)的 USB 驅動程序(WIN7、WIN8、WIN10)
- 為什麼福祿克需要校準?
- 福祿克FLUKE CFP2-100-Q/CFP2-100-M/CFP2-100-S 產品介紹
- 福祿克FLUKE CFP2-100-Q/CFP2-100-M/CFP2-100-S 操作說明 用戶手冊
- 福祿克DSX2-8000/DSX2-5000使用說明-附加功能
- 福祿克DSX2-8000/DSX2-5000使用說明-查看與保存結果
- 福祿克DSX2-8000/DSX2-5000使用說明-測試設置與操作